x荧光膜厚测量仪
x荧光膜厚测量仪x射线膜厚仪是通过***x射线穿透被测物体时的强度衰减量来测量物体厚度。x射线膜厚仪的优点是仪器在断电后就不会在释放任何射线,减少了对***和周围环境的危害,从而是一种安全的膜厚仪,因此,各大工程中特别是在有色金属板材生产加工中被广泛的应用。但是,由于x射线测厚仪的射线强度、以及被测物的材质、温度、倾斜角度等都会影响到x射线膜厚仪测量的***度,所以我们应该注意影响x射线膜厚仪测量精度的因素并注重对其进行日常的维护。x荧光膜厚测量仪可测元素范围:铝(AL)–铀(U)。可测量厚度范围:原子序22-25,0.1-0.8μm26-40,0.05-35μm43-52,0.1-100μm72-82,0.05-5μm。自动测量功能:编程测量,自定测量修正,测量功能。底材修正:已知样品修正。定性分析功能:光谱表示,光谱比较。定量分析功能:合金成份,分析数据。联系人:舒翠手机:13602568074电话:0755-29371655传真:0755-29371653邮箱:sc@地址:宝安区沙井北环大道110号新桥综合大楼502)
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