镀层膜厚分析仪x射线膜厚仪是通过***x射线穿透被测物体时的强度衰减量来测量物体厚度。x射线膜厚仪的优点是仪器在断电后就不会在释放任何射线，减少了对***和周围环境的危害，从而是一种安全的膜厚仪，因此，各大工程中特别是在有色金属板材生产加工中被广泛的应用。但是，由于x射线测厚仪的射线强度、以及被测物的材质、温度、倾斜角度等都会影响到x射线膜厚仪测量的***度，所以我们应该注意影响x射线膜厚仪测量精度的因素并注重对其进行日常的维护。镀层膜厚分析仪软件包括：（1）X射线部件的操作（2）控制整个测量过程（3）***的基本参数法可进行无标准片测量（4）用受认证的标准片进行校准，可以完成有标准片调校的测量（5）可以同时分析材料成分和测量计算镀层厚度（6）按照元素波峰进行自动元素识别（7）测量值可以以karat,wt%或‰表示（8）客户自定义报表工具联系人:舒翠手机:13602568074电话:0755-29371655传真:0755-29371653邮箱:sc@地址:宝安区沙井北环大道110号新桥综合大楼502)