膜厚分析仪_bowman
膜厚分析仪_bowmanx射线膜厚仪是通过***x射线穿透被测物体时的强度衰减量来测量物体厚度。x射线膜厚仪的优点是仪器在断电后就不会在释放任何射线,减少了对***和周围环境的危害,从而是一种安全的膜厚仪,因此,各大工程中特别是在有色金属板材生产加工中被广泛的应用。但是,由于x射线测厚仪的射线强度、以及被测物的材质、温度、倾斜角度等都会影响到x射线膜厚仪测量的***度,所以我们应该注意影响x射线膜厚仪测量精度的因素并注重对其进行日常的维护。膜厚分析仪_bowman软体说明:*电脑操作系统XP系统*测量膜厚元素范围:元素周期表13—92号元素间的所有镀层,使用FP法充许各元素镀层次序的自由组合测量层层次,***多可以测量四层(加基材***多五层)*仪器支持二种镀层厚度计算方法(1)、无标准片的FP法(FundamentalParameter)全新数学计算方法。FP法名词解释:即在没有标准块的前提下,一样能***测量,此方式是通过仪器直接读取镀层元能量信息,通过各无素能量信号的强弱或设定的各无素比例参数,以一种数学的方式直接计算镀的厚度。因为它不需要标准块,因此它不受标准块的限制,在没有各种合金镀层标准块的情况下样***的测量各种二元、三元合金镀层)到目前为止,bowman是世界上***可实现此种新型测试技术的膜厚测量品牌,此技术已使用了17年。(2)、支持传统的带标准块的检量线法,即通过镀层标准块建立测试程式档案测量相对应的镀层厚度。联系人:舒翠手机:13602568074电话:0755-29371655传真:0755-29371653邮箱:sc@地址:宝安区沙井北环大道110号新桥综合大楼502)
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