膜厚测试仪x射线膜厚仪是通过***x射线穿透被测物体时的强度衰减量来测量物体厚度。x射线膜厚仪的优点是仪器在断电后就不会在释放任何射线，减少了对***和周围环境的危害，从而是一种安全的膜厚仪，因此，各大工程中特别是在有色金属板材生产加工中被广泛的应用。但是，由于x射线测厚仪的射线强度、以及被测物的材质、温度、倾斜角度等都会影响到x射线膜厚仪测量的***度，所以我们应该注意影响x射线膜厚仪测量精度的因素并注重对其进行日常的维护。膜厚测试仪硬件配置（均为美国标准配）：*射线管：微聚焦型W靶鈹窗X射线管功率50W*激发电源：仪器可调节式高压电源30-40-50KV高压激发电源*检测器：数字半导体****滤波器：镍（Ni）滤波;铝（AI）滤波；和空气滤波三种*准直器：4个（自动司服转化功能）圆形4个:0.1φ,0.2φmm,0.3φmm，1.5φmm*摄像系统：彩色CCD摄像系统。*整体外观尺寸：长*宽450*450mm整体重量：32KG样品的测量台：XY轴可移动样品台样品室，室内尺寸：长*宽*高=360*380*240*搭载自动制作生成图文测量检验报告书*戴尔E390商务电脑及19寸液晶显示器（戴尔原装电脑具体配置随机性）智能英特尔奔腾G630处理器；OptiPLex(TM)390MT机箱1GB（1x1GB）Non-ECCDDR31333MHZSDRAMMemory500GB7200RPM3.5SATAHardDrive，DeLLIN193019英寸显示器*工具配置箱一件，样品环二个，样品膜一卷（可使用数年）联系人:舒翠手机:13602568074电话:0755-29371655传真:0755-29371653邮箱:sc@地址:宝安区沙井北环大道110号新桥综合大楼502)