x-ray膜厚测量仪
x-ray膜厚测量仪x射线膜厚仪是通过***x射线穿透被测物体时的强度衰减量来测量物体厚度。x射线膜厚仪的优点是仪器在断电后就不会在释放任何射线,减少了对***和周围环境的危害,从而是一种安全的膜厚仪,因此,各大工程中特别是在有色金属板材生产加工中被广泛的应用。但是,由于x射线测厚仪的射线强度、以及被测物的材质、温度、倾斜角度等都会影响到x射线膜厚仪测量的***度,所以我们应该注意影响x射线膜厚仪测量精度的因素并注重对其进行日常的维护。x-ray膜厚测量仪整体描述:美国BOWMANX-RAY設備遵循ASTMB568,DIN50987和ISO3497等國家和國際標準,主要基於鍍層厚度測量和材料分析的X-射***系統。採用全新數***計算方法,採用***新的FP(FundamentalParameter)強大的***腦功能來進行鍍層厚度的計算,在加強的軟體功能之下,簡化了測量比較複雜鍍層的程式。(1)、配置硬件革新:采用半导体***,分辨率较传统品牌比例接收品提高数倍,较传统X-RAY***度提高了50%以上,在测试薄金(Au)方面表现更为突出。(2)、超常保固期:2年(24个月),较其它品牌整机延长一倍;(3)、前沿的测量技术:所有产品均为美国原装进口,超低的售价:相对于其它品牌同档次的机型售价降低了50%联系人:舒翠手机:13602568074电话:0755-29371655传真:0755-29371653邮箱:sc@地址:宝安区沙井北环大道110号新桥综合大楼502)
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