x-ray膜厚分析仪x射线膜厚仪是通过***x射线穿透被测物体时的强度衰减量来测量物体厚度。x射线膜厚仪的优点是仪器在断电后就不会在释放任何射线，减少了对***和周围环境的危害，从而是一种安全的膜厚仪，因此，各大工程中特别是在有色金属板材生产加工中被广泛的应用。但是，由于x射线测厚仪的射线强度、以及被测物的材质、温度、倾斜角度等都会影响到x射线膜厚仪测量的***度，所以我们应该注意影响x射线膜厚仪测量精度的因素并注重对其进行日常的维护。x-ray膜厚分析仪分析:元素范围：铝13到铀92。x射线激发能量：50W(50kv和1ma)钨靶射线管探测器：硅PIN检测器250ev的分辨率或更高的分辨率测量的分析层和元素：5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素过滤器/准直器：4个初级滤波器,4个电动准直器（0.10.20.31.5mm）聚焦:多固定聚焦与激光系统数字脉冲处理:4096多通道数字分析器与自动信号处理，包括X射线时间修正和防X射线积累电脑:英特尔酷睿i53470处理器(3.2ghz),8gbDDR3内存,微软Windows7***64位等效镜头:1/4"cmos-1280x720VGA分辨率电源:150w、100~240伏,频率范围47赫兹到63赫兹工作环境:50°F(10°C)到104°F(40°C)小于98%RH,无冷凝水重量:32公斤内部尺寸:高:140毫米(5.5”),宽:310毫米(12),深:210毫米(8.3”)140*310mm外形尺寸:高:450毫米(18英寸),宽:450毫米(18),深:600毫米(24)450*450mm联系人:舒翠手机:13602568074电话:0755-29371655传真:0755-29371653邮箱:sc@地址:宝安区沙井北环大道110号新桥综合大楼502)