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广州贝拓薄膜厚度测定仪
广州贝拓薄膜厚度测定仪采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度***测量。薄膜厚度测定仪主要参数:仪器型号:CHY-U测量范围:0-2mm(其他量程可定制)分辨率:0.1um测量速度:10次/分(可调)测量压力:17.5&plu***n;1kPa(薄膜);100&plu***n;1kPa(纸张)接触面积:50mm2(薄膜),200mm2(纸张)注:薄膜、纸张任选一种进样步矩:0~1300mm(可调)进样速度:0~120mm/s(可调)外形尺寸:450mm×340mm×390mm重量:23kg标准配置:测厚仪主机、标准量块、微型打印机选用配置:软件、通信电缆、测量头、配重砝码、自动进样器薄膜厚度测定仪http:///Products-mlhttp:///st395763/)