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广州贝拓光学膜厚仪
广州贝拓光学膜厚仪根据测量原理,通常有五种类型:1、磁性厚度测量:适用于测量磁性材料上非磁性层的厚度。一般来说,磁性材料是沧州瓯钢、铁、银和镍。2、涡流厚度测量:适用于测量导电金属上的非导电层的厚度。这种方法比磁厚度测量精度低。3、超声波厚度测量:目前国内尚没有用这种方法测量涂层厚度。国外一些厂家也有这种仪器,多层涂敷厚度测量的应用是上述两种方法无法测量的情况。4、电解厚度测量方法:此方法不同于上述三种,不属于NDT,需要涂层。一般精度不高。5、辐射厚度测量:该仪器非常昂贵(通常超过10万元人民bi),适用于某些特殊场合。本软件包含了类型丰富的材料折射率数据库,可以有效地协助用户进行线下或者在线测试分析。本系统可支持吸收率,透射率和反射率的测量,还提供任何堆积膜层的理论性反射光谱,一次使用***,即可安装在任何其他电脑上作膜厚测试后的结果分析使用。光学膜厚仪http:///Products-mlhttp:///st395763/product_ml)