R&S®R-Line紧凑型测试暗室能在产品开发***初阶段消除无线终端产品的辐射问题，优化整体RF性能，从而避免了以后对产品原型的大量修改，节省了成本和时间，加快了产品推向市场的速度，提高了***回报率。R&S®R-Line紧凑型射频测试暗室能在临界频率800MHZ至18GHZ范围进行测量，测量准确度比吸波暗室高出10倍。它能够轻松与研发实验室配套，以降低对基础实施和仪器的***。R&S®R-Line紧凑型测试暗室主要特点：•早期进行RF性能和辐射发射测量•测量准确度与电波暗室同样高，大幅降低设备和基础设施***•外形紧凑，用途广泛•自动化测量，交钥匙工程方案，效率更高简要技术规格射频技术规格/测量范围频段频率范围800MHz至18GHz极化方式通过¸HL024A1交叉对数周期天线进行水平和垂直极化现场场强均匀性VSWR，典型值2dB，符合CISPR16-1-4:2007标准通信天线800MHz至6GHz，圆形极化屏蔽效果屏蔽效能>95dB，800MHz至6GHz;>70dB，6GHz至18GHz机械数据外形尺寸(W×H×D)1700mm×2250mm×1640mm(66.93in×88.58in×64.57in)门尺寸(W×H)500mm×1000mm(19.68in×39.37in)被测设备尺寸(∅×H)***大值330mm×240mm(***大值12.99in×9.45in)重量562kg(1239lb)被测设备重量***大值1kg(***大值2.2lb)被测设备校准或连接射频通孔接口2×N(母)，2×***A(母))