双折射测量系统/双折射测试仪全自动双折射测量系统ABR-10A(高解析度、高速型)双折射系数的线性解析度高达0.01nm；可同时测量延迟轴和主轴两个方向；基于光学相位差的双折射系数显示；一秒采样时间；应用：液晶显示屏膜；聚合物膜的取向；DVD和CD光学系统组件；由于薄膜和基材之间热膨胀系数不同引起的应力；某些透明材料的内部残余应力，如光学玻璃和塑料；某些透明材料的热应力；光弹性系数；全自动双折射测量系统ABR-22(自动测量线性和周向双折射系数，高速型)双折射测量系统/双折射测试仪特点：1）可同时或***测量线性和周向双折射系数；2）无需样品旋转，即可测量主轴和延迟轴的线性双折射系数、圆周双折射系数的旋转角；3）一秒采样时间；4）可选样品旋转台；5）二维或三维显示双折射系数的线性解析度高达0.01nm；6）可全自动操作；应用：1）液晶显示屏(TN,STN)的双折射分布；2）液晶显示屏(TN,STN)的双折射系数与电压的关系；3）电－光学器件(如：Pockel效应、Faraday旋转、Kerr旋转等)；4）光学晶体研究；5）聚合物膜研究；全自动双折射测量系统ABR-30(超高速型)特点：1）可以实现双折射系数的高速测量：100微秒；2）维护成本极低；3）二维或三维显示；4）可选样品旋转台；5）操作方便；应用：1）在静态和高速旋转速度下进行光学储存器件表征；2）动态双折射研究(如液晶、高分子)；3）对某些透明材料的热冲击；4）动态光弹性系数；5）光学相位调制器；)