X-7600SDD/LE型X射线荧光光谱仪产地：美国主要特点：1)X-7600SDD/LE在带有二次靶技术的能量色散型X射线荧光分析仪领域中，引进专利技术，重新定义了“******”的概念,使得元素周期表中所有元素的检测都能得到***佳结果。2)为分析调查和开发应用提供了高性能的解决方案，同时，为商业实验室分析提供了一种低成本、***益的选择。3)以高精度、sub-ppm检测精度为特色，在环保、地质和***检测领域中，不管是轻元素还是重元素分析，X-7600SDDLE与其他分析仪器相比都具有更加***的检测性能；4)提高了轻元素例如F、Ne、Na的检测精度；5)SDD探测器具有电子噪音低和高计数率的特点，与Si-PIN探测器相比，SDD探测器具有更高的能量分辨率并能更快的得到分析结果；6)8个二次靶为快速***的定量分析提供了***大程度的灵敏度，甚至是像合金、塑料、地质这样复杂的基质中。完全自定义的二次靶使得检测结果能达到sub-ppm级别；7)能够分析液体、固体、泥浆、粉末、片状物体等。并且分析样品室能够满足不用形状和尺寸样品的需要；8)10个位置的自动进样器整体设计允许了***低限度的操作员干预、自动加载以及无人照管操作；9)该仪器检测快速，精准，使用方便。它具有坚固的计算机硬件和强大的分析软件能检测限低；10)多通道采集分辨率为改良过的探测器提供优质的峰与峰的比率。技术参数：测量能力测量范围C(6)－Fm（100）元素含量分析范围ppm-100%（在指定应用领域中）X光管***源Rh–阳级标准X-射线电压60kV,400W.激发模式二次靶激发模式稳定性室温条件下***到0.1%X光探测器探测器硅锂探测器（SDD），避免使用液态氮分辨率136eV&plu***n;5eVat5.9keV窗口Be特性自动成样10个位置工作条件空气/真空/氦气滤光片8款可选的软件二次靶8款可选的软件:Zr,Si,ti,fe,Ge,mo,Sn,Gd.电源115Vac/60Hz或230Vac/50Hz脉冲加工多信道分析光学专利WaG®(广角几何)尺寸（L×W×H，cm）85×85×105(不含包装)，145×95×135（含包装）重量170Kg（净重），200Kg(总重)样品室尺寸直径28cm,高5cm电脑集成pc软件操作软件nEXt，运行在WindowsXP下的数据采集及分析软件包外加初级基本参数算法控制样品激发，探测，样品操控，数据采集及处理的自动控制光谱处理逃逸峰及背底的自动去除，自动重叠峰解析，图解式统计报告定量分析算法考虑共存元素效应的多元素回归法（六种模式）。总计数，净计数拟合及数字滤波器法。报告用户可自定的数据报表及打印形式S-MOBILEULS便携式S-MOBILESDD型便携S-MOBILEPD型便携式X-CITESDD型台式X射X-CITEPD型台式X射线X-PMA型X射线荧光光谱贵金X-RoHS+SDD型X射线荧X-CaliburSDDLX-CaliburSDD型台RoHsVision型x射线X-CaliburPD型台式EX-3600PD/SDD型X-7600SDD/LE型XEX-6600SDD型X射线ElvaX能量色散型Ｘ荧光光谱ElvaXProSpecto1/1)