bowman线路板美国膜厚仪技术指标型号：元素分析范围从铝（AL)到铀（U）。一次可同时分析***多24个元素或五层以上镀层。元素分析检出限可达2ppm，分析含量一般为2ppm到99.9％。镀层厚度***薄可达0.005um，一般在20um内（不同材料有所不同）。小孔准直器（***小直径0.1mm），测试光斑在0.2mm以内。高精度移动平台（***精度小于0.005mm）。任意多个可选择的分析和识别模型。相互***的基体效应校正模型。多次测量重复性可达0.05um（对少于1um的***外层Au）。长期工作稳定性为0.1um（对少于1um的***外层Au）。温度适应范围为15℃至30℃。电源:交流220V&plu***n;5V,建议配置交流净化稳压电源。博曼膜厚仪尺寸：576x495x545mm重量：90kg标准配置开放式样品腔。精密二维移动样品平台，探测器和***管上下可动，实现三维移动。双激光***装置。铅玻璃屏蔽罩。Si-Pin探测器。信号检测电子电路。高低压电源。***管。高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机博曼膜厚仪是一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。测量更小、更快、更薄bowman比现有其它的XRF仪器可以测量更小的面积、更薄的镀层和更加快速。这是由包括准直器、探测器、信息处理器和计算机等部件在内的一整套专利系统完成的。联系人：舒翠13602568074电话：0755-29371655传真：0755-29371653地址：深圳市宝安沙井北环大道鸿安大厦502金东霖科技是菲希尔仪器技术力量***为强大的大陆代理商.***销售：镀层测量仪,电镀测厚仪,膜厚测量仪,金属测厚仪,X射线测厚仪,无损测厚仪,镀膜测厚仪,金镍测厚仪,铜厚测量仪,X射线元素分析仪,线路板铜厚测量仪,合金分析仪,产品RoHS检测仪；公司有多名经验丰富的销售、服务工程师，是菲希尔仪器在大陆指定委托的服务商，长期以来得到菲希尔厂家及广大客户的好评。)