x射线半导体膜厚仪
金东霖科技是菲希尔仪器技术力量***为强大的大陆代理商.***销售:镀层测量仪,电镀测厚仪,膜厚测量仪,金属测厚仪,X射线测厚仪,无损测厚仪,镀膜测厚仪,金镍测厚仪,铜厚测量仪,X射线元素分析仪,线路板铜厚测量仪,合金分析仪,产品RoHS检测仪;公司有多名经验丰富的销售、服务工程师,是菲希尔仪器在大陆指定委托的服务商,长期以来得到菲希尔厂家及广大客户的好评。x射线半导体膜厚仪主要用于镀层或涂层厚度的测量,而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。无数次的专利发明,包括使用DCM自动对焦方法和透明的准值器,操作简单。不用调校.X-射线管的距离也可测量,操作人员只需要调校样品焦距便可以测量。膜厚仪提供:(1)无损分析:无需样品制备(2)经行业认证的技术和可靠性,确保每年都带来收益(3)操作简单,只需要简单的培训(4)分析只需三步骤(5)杰出的分析准确性和***性(6)在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验(7)使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量,保证质量的同时降低成本。联系人:舒翠13602568074电话:0755-29371655传真:0755-29371653地址:深圳市宝安沙井北环大道鸿安大厦502)
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