探针式轮廓仪(台阶仪/膜厚仪)DektakXT布鲁克DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供***的重现性，重现性低于5Å。台阶仪这项性能的提高达到了过去40年Dektak技术创新的顶峰，更加巩固了其行业***地位。通过整合其行业***产品，DektakXT实现了***高性能。操作简易，从研发到质量控制都有更好的过程控制。整合了技术突破到第十代DektakXT台阶仪，能够在微电子，半导体，超高亮度发光二极管（LED）、***、材料科学等行业实现纳米级表面形貌测量。DektakXT技术参数：1.台阶高度重复性5Å2.单拱（Single-arch）设计大大提高了扫描稳定性3.前置敏化器件，降低了噪音对测量的干扰4.新的硬件配置使数据采集能力提高了40%5.64-bit，Vision64同步数据处理软件，使数据分析速度提高了十倍。6.功能***，操作简易7.直观的Vision64用户界面操作流程简便易行8.针尖自动校准系统让用户更换针尖不再是难事9.台阶仪（表面轮廓仪）领域无可撼动的世界***地位10.单传感器设计提供了单一平面上低作用力和宽扫描范围)