博曼X-RAY膜厚测试仪
博曼X-RAY膜厚测试仪产品特点:即放即测!通过自动***功能,放置样品后仅需几秒,便能自动对准观察样品焦点。10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量!以***佳的设计实现微小区域下的高灵敏度,即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度地提高膜厚测量的精度。无标样测量!将薄膜FP软件进一步扩充,即使没有厚度标准物质也能进行高精度的测量。也可简单地测量多镀层膜和合金膜样品。通过广域观察系统更方便选择测量位置!通过广域观察系统,能够从画面上的样品整体图(***大250×200mm)中方便地指定测量位置博曼X-RAY膜厚测试仪产品用途:电镀层厚度及多镍镀层电位测量应用领域:PCB、LED、航天航海、电子电器、线路板、五金电镀、塑胶电镀、标准件、钕铁硼、技术监督部门及科研机构。测量镀种:装饰铬、镍、铜、锌、锡、银、金、镉、硬铬、化学镍、多层镍,复合镀层(如Cr/Ni/Cu)约30几种镀层基体组合。镀层底材:金属、非金属、钕铁硼等镀层层数:单层及复合多层测量范围:13号~92号元素(保证精度情况下,更厚镀层也可测量))
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