超精度美国BOWMAN（博曼）线路板X-RAY膜厚仪可测量：单一镀层：Zn，Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。超精度美国BOWMAN（博曼）线路板X-RAY膜厚仪可实现如下测试要求：符合ISO3497标准测试方法：金属镀层——X射线光谱法测量镀层厚度符合ASTMB568标准测试方法：X射线光谱仪测量镀层厚度，包括金属和部分非金属镀层至多同时分析25种元素经实践验证、坚固、耐用的设计，可在绝大多数严苛的工业条件下使用。空间占用小–节约宝贵的工作台空间，也可近产线放置。计算机提供USB和以太网接口用于连接打印机、光驱和网络。超精度美国BOWMAN（博曼）线路板X-RAY膜厚仪行业用于电子元器件，半导体，PCB，LED支架，五金电镀，连接器等……多个行业表面镀层厚度的测量.)