半导体台式测厚仪规格描述X射线激发系统：垂直上照式X射线光学系统准直器程控交换系统：可同时装配4种规格的准直器测厚范围可测定厚度范围：取决于您的具体应用。基本分析功能采用基本参数法校正。样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)半导体台式测厚仪可检测元素范围：AL13–U92可同时测定5层/15种元素/共存元素校正***检测，如Aukarat评价材料和合金元素分析，材料鉴别和分类检测液体样品分析，如镀液中的金属元素含量多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析精度高、稳定性好强大的数据统计、处理功能测量范围宽NIST认证的标准片***服务及支持半导体台式测厚仪（1）无损分析：无需样品制备（2）经行业认证的技术和可靠性，确保每年都带来收益（3）操作简单，只需要简单的培训（4）分析只需三步骤（5）杰出的分析准确性和***性（6）在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验（7）使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量，保证质量的同时降低成本。)