DAGE X-RAY
DAGEX-RAY|DAGE***检查机英国DAGE公司***测试仪设计满足PCB和半导体工业的增长需求,用户可以轻松获取高质量、高放大倍数和高分辨率下的被测物任何方位的图像。由于采用开管(OpenTube)技术,在放大倍数方面远远超过了采用闭管(ClosedTube)技术的***检测仪达到亚微米级,能满足客户更高精度的需求。观察右下方的照片,你可以对该仪器在PCB和半导体行业的应用有一个大概的了解。在对物体需要进行几百甚至几千倍的放大观察时,你一定需要该机器的协助!在制造业向生产更精巧,更密集的方向发展时,该仪器就显得必不可少,进一步的具体应用,请与我们联络!技术参数:规格XiDatXD7500XiDatXD7500VR尺寸(长x宽x高)1450x1700x1970mm1450x1700x1970mm重量1900KG1900KG***小聚集光点1micron0.95micronX光发射管开放管开放管X射线管电压范围30-160KV30-160KV***大检测面积458MMx407MM458MMx407MM***大板尺寸508MMx444MM508MMx444MM***大样本重量5KG5KG电源单相200-230V/16A单相200-230V/16A斜角视图0-70°(360°***检测)0-70°(360°***检测)系统(几何)放大倍率1065x1200x辐射安全标准1uSv/Hr(符合欧美标准)1uSv/Hr(符合欧美标准)主要特点:DAGEXD7500VR***无损检测系统主要特征:***小分辨率:950纳米(0.95微米);影像***左右偏转角度各70度(共140度),旋转360度;图像采集:1.3M万数字CCD;***大检测区域面积:18”x16”(458x407mm);***大样品尺寸:20”x17.5”(508x444mm);系统***大放大倍数:至5650X;显示器:20.1"(DVIinterface)数字彩色平板LCD,(1600x1200PIXELS);安全性:在机器表面任何地方******率<1mSv/hr等等***检查在PCB及半导体行业中被认为是***关键的测试步骤。在当今的封装设计中发现缺陷是非常重要的,因此,***系统必须在不同的观察角度能够提供高分辨率、高放大倍率和高对比度的图像。在评定一台X-Ray时,检测速度的快慢和用户友界面是否友好都是必不可少的。DAGEXD7600XiDAT系列***机安装的软件版本为具有图像引导功能的DAGE11。该软件使用方便,具有进行亚微米级的观察、自动检测、动态的波动分离、图像抓拍、***友好的用户界面等优势。该设备是标准的配置,能够提供实时的高质量数字式的***图像,图象的分辨率和灰阶都有很大程度的增强,***大可达70度的倾角观察。)
北京锐峰先科技术有限公司
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