测厚仪标准片,校正片,又称标准箔,膜厚片,通用于所有X射线镀层测厚仪(进口品牌Fischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、MicroPioneerXRF-2000、SeikoSII等,国产天瑞,纳优等)1.薄膜片,单层测量品种：镍（Ni）；铬（Cr）；铜（Cu）；锌（Zn）；Cd（4）；锡（Sn）；银（Ag）；金（Au）;钯(Pd)等，其它镀层可定制.2.镀层标准片:双镀层：Au/Ni/xx，三镀层：Au/Pd/Ni/xx等.3.合金标准片：合金镀层测量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等.4.测量厚度范围：0.01~300μm.(特别厚度可订做).5.我们还有ROHS标准片,标准物件.6.涂层测厚仪塑料标准片等.7.电解测厚仪标准片/库仑测厚仪标准片客户在联系我的时候请了解清楚自己所需要使用的元素及厚度，以便我们更好的沟通与合作,谢谢！CADMIUM(Cd)镉CSCD4040u"(1.00um)CSCD8080u"(2.00um)CSCD200200u"(5.00um)CSCD400400u"(10.0um)CSCD600600u"(15.0um))