SBJDCS2853D介电常数测试仪-扬州苏博介损仪的详细资料SBJDCS2853D介电常数测试仪仪器介绍SBJDCS2853D介电常数及介质损耗测试仪是根据GB/T1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC60250）设计和制造的，并符合JB7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。绝缘材料高频介质损耗测试装置能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)的测试。它符合国标GB/T1409-2006,美标ASTMD150以及IEC60250规范要求。SBJDCS-2853D介电常数及介质损耗测试仪是一种基于串联谐振原理工作的50kHz～160MHz高频阻抗测量仪器，对电感器，电容器，绝缘材料等进行高频的有效电感，Q值，电容值和ε，tanδ及高频电缆特性阻抗和衰减系数的测量。1特点：◎本公司创新的自动Q值读取技术，使测Q精度和速度大大提高。◎Q值四位有效显示，0.1Q分辨率。◎DPLL合成发生测试信号，数字设置和连续调节信号频率。◎调谐回路残余电感8nH，保证高频时直读Q值的误差较小。◎***LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。◎Q值量程自动/手动量程控制。◎数字化Q值预置，能提高批量测试的可靠性和速度。◎***50kHz～160MHz信号源输出口，所以本机又是一台160MHz的合成信号源，频率准确度&plu***n;50ppm，稳定度&plu***n;10ppm。2主要技术指标：2.1工作频率范围：50kHz～160MHz，五位有效数显。2.2Q值测量范围：1～1000；分1～30，10～100，30～300，100～1000四档。分辨率0.1Q.2.3Q值固有误差：&plu***n;5%&plu***n;3%满刻度值。2.4有效电感测量范围：0.02µH～200mH。2.5电感测量误差：≤3%&plu***n;0.01µH2.6调谐电容特性：2.6.1可调电容范围：13pF～220pF。2.6.2***度：&plu***n;1%或0.5pF。2.6.3电容量测量范围：1pF～200pF。2.6.4电容测量误差：&plu***n;1%&plu***n;0.5pF。2.6.5残余电感值：约8nH。2.7Q预置功能：2.7.1Q预置范围：5～999均可。被测件达到预置值后有“GO”显示和蜂鸣声提示。不合格件则显示“NOGO”。2.8外形尺寸及重量：415×180×170（mm）,7kg。)