KMIS高精度二次元测量系统
KMIS高精度二次元测量系统有小型桌面式测量系统和大型台式测量系统，可测量几十厘米至几米的大型平板，测量精度可达微米级。可应用于液晶半导体行业中的液晶面板、偏光板等的测量。欢迎来电查询或登录网站Http://联系人：周小姐Q号：1483369416电话：13928721175邮箱：zqw@)
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