MicroPioneerXRF-2000系列荧光X射线金属镀层测厚仪可用于测量一般工件、PCB及五金、半导体等产品的各种金属镀层的厚度。其特点为：激光自动对焦、全自动XYZ样片台、简易自动对位、具温度补偿功能、十字线自动调整、可自行设计报告格式、多镀层及电镀液分析、具有竞争力的价格、五个准直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm)。是非***性测厚仪器的***机型。可测元素范围：钛(Ti)–铀(U)原子序22–92准直器：固定种类大小:可选圆形0.10.20.30.4mm方型1×0.4mm自动种类大小:可选圆形0.10.20.30.4mm方型0.05×0.4mm综合性能:镀层分析定性分析定量分析镀液分析统计功能本公司还供应上述产品的同类产品：美国膜厚仪,膜厚测量仪,镀层厚度测量仪)