测厚仪标准片,校正片,又称标准箔,膜厚片,通用于所有X射线镀层测厚仪(进口品牌Fischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、MicroPioneerXRF-2000、SeikoSII等,国产天瑞,纳优等)薄膜片,单层测量品种：镍（Ni）；铬（Cr）；铜（Cu）；锌（Zn）；Cd（4）；锡（Sn）；银（Ag）；金（Au）;钯(Pd)等，其它镀层可定制.镀层标准片:双镀层：Au/Ni/xx，三镀层：Au/Pd/Ni/xx等.合金标准片：合金镀层测量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等.测量厚度范围：0.01~300μm.(特别厚度可订做).我们还有ROHS标准片,标准物件.涂层测厚仪塑料标准片等.客户在联系我的时候请了解清楚自己所需要使用的元素及厚度，以便我们更好的沟通与合作,谢谢！深圳市安达仪器仪表有限公司,13420947400,TEL:0755-82952800钯镍合金校正片Pd-Ni,Pd80%,NI20%Pd-Ni,Pd80%,NI20%0.75umPd-Ni,Pd80%,NI20%2.0umPd-Ni,Pd80%,NI20%3.0umPd-Ni,Pd80%,NI20%5.0umPd/Ni/CuPd10.4/200u",0.26/5.09umPlatedPd-3434Pd-Ni/CuPd14.3u"80%,0.36umPlatedPd/Ni-3146Pd-Ni/CuPd71u"80%,1.80umPlatedPd/Ni-3147Pd-Ni/CuPd205u"80%,5.21umPlatedPd/Ni-3501Pd-Ni/NiPd80.7u"80%,2.05umPlatedPd/Ni-3810……)