可对离子迁移绝缘电阻值进行高精度、高信赖性、***率的评价。从当今的地球、市场环境来看，省能源、铅/无卤素、小型轻量、***、高依赖等观点出来的，新素材、新实装方法的研究开发、评价方法的重估是必须的。简介：离子迁移实验装置是一种依赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（BIASVOLTAGE），经过长时间的测试（1~1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（IONMIGRATION），并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是OPEN/SHORT试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。深圳市世纪天源仪器有限公司涂美兰13570829212电话：0755-23155856传真：0755-23155853邮箱：tumeilan@网址：http://)