规格型号SV-C3200S4(525-481-1/-2)SV-C3200H4(525-482-1/-2)SV-C3200W4(525-483-1/-2)SV-C3200S8(525-486-1/-2)SV-C3200H8(525-487-1/-2)SV-C3200W8(525-488-1/-2)SV-***500S4(525-441-1/-2)SV-***500H4(525-442-1/-2)SV-***500W4(525-443-1/-2)SV-***500S8(525-446-1/-2)SV-***500H8(525-447-1/-2)SV-***500W8(525-448-1/-2)测量表面粗糙度时测量范围X轴(检测部)100mm200mmZ1轴(检测部)800μm/80μm/8μm直线度(0.05+L/1000)μmL驱动长度(mm)0.5μm/200mm分辨率Z1轴(检测部)0.01μm(800μm),0.001μm(80μm),0.0001μm(8μm)测力0.75mN(机身代码末尾带「-1」的机型)/4mN(机身代码末尾带「-2」的机型)测针针尖形状60º,2μmR(机身代码末尾带「-1」的机型)/90º,5μmR(机身代码末尾带「-2」的机型)对应尺寸JIS1982/JIS1994/JIS2001/ISO1997/ANSI/VDA参数Pa,Pq,Psk,Pku,Pp,Pv,Pz,Pt,Pc,P***,P􀏶q,Pm(rC),Pmr,P􀐎c,Ra,Rq,Rsk,Rku,Rp,Rv,Rz,Rt,Rc,R***,R􀏶q,Rm(rC),Rmr,R􀐎c,Wa,Wq,Wsk,Wku,Wp,Wv,Wz,Wt,Wc,W***,W􀏶q,Wm(rC),Wmr,W􀐎c,Rk,Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,Rx,AR,R,Wx,AW,W,Wte,Ry,RyDIN,RzDIN,R3y,R3z,S,HSC,Lo,Ir,􀏶a,􀐕a,􀐕q,Vo,Htp,NR,NCRX,***,SR,SAR,NW,SW,SAW评价曲线断面曲线、粗糙度曲线、滤波波纹曲线、波纹曲线、滚动圆波形截面曲线、滚动圆波形曲线、包络残余线、DF曲线（DIN4776/ISO13565-1）、表面粗糙度MOTIF(包络波纹曲线在评价MOTIF时显示。)分析图负荷曲线、振幅分布曲线、功率谱、自相关、Walsh功率谱、Walsh自相关、顶峰分布、倾斜角分布、参数分布(磨损量、重叠在轮廓分析可以用于面积等的分析)曲线校正******方直线、R面校正、椭圆校正、抛物线校正、双曲线校正、二次曲线校正、多项式校正(自动或任意2~7次)、无校正滤波器高斯滤波器、2CRPC75、2CRPC50、2CR75、2CR50、准样条滤波器测量轮廓形状时测量范围X轴(检测部)100mm200mmZ1轴(检测部)60mm(测臂水平位置&plu***n;30mm)直线度0.8μm/100mm2μm/200mm指示精度X轴(检测部)&plu***n;(0.8+0.01L)μmL驱动长度(mm)&plu***n;(0.8+0.02L)μmL驱动长度(mm)Z1轴(检测部)SV-C3200系列:&plu***n;(1.6+􀊛2H􀊛/100)μm,SV-***500系列:&plu***n;(0.8+􀊛2H􀊛/100)μmH:为水平位置上的测量高度(mm)分辨率X轴(检测部)0.05μmZ1轴(检测部)SV-C3200系列:0.04μm,SV-***500系列:0.02μmZ2轴(立柱)1μm测力SV-C3200系列:30mN(根据重量调整),SV-***500系列:10,20,30,40,50mN(根据软件转换)测针方向SV-C3200系列:向上/向下(单独测量),SV-***500系列:向上/向下(上下可连续测量)通用时Z2轴(立柱)移动量300mm500mm300mm500mmX轴倾斜角度&plu***n;45º驱动速度X轴0～80mm/s外加手动Z2轴(立柱)0～30mm/s外加手动)