ABI-8200包含2个重要测试模块：ABI-6400+ABI-2400电路板故障检测仪模块一：ABI-6400的技术参数6400单独成为测量设备的外形离线测试盒电路板故障检测仪主要测试功能：1)64通道数字集成电路在线、离线功能测试2)64通道V-I曲线模拟通道测试(可测模拟器件)3)强大的元器件和整板仿真测试功能4)阈值电平零界点扫描测试5)短路***测试(低电阻测试)6)实时显示输出逻辑电平值7)存储器功能测试8)数字时序编辑功能9)未知器件型号查询10)程控电源供电,可设定输出的延迟时间产品特征描述1)中英文测试软件，产品体积小，重量轻，USB接口，适合携带2)数字测试通道:64路(可扩充到256通道).3)模拟测试通道64路，即64路V-I曲线测试(可扩充到256通道).1路v-i探棒测试4)隔离通道:4路.总线竞争信号隔离功能:用于解除总线竞争，确保正确测试挂在总线上的三态器件(如74LS373,74LS245,等)，可提供4路总线竞争隔离信号。5)能够对多种逻辑电平数字逻辑器件进行在线/离线功能测试；可以通过图像化的编辑器自定义测试库，可以快速扩充测试库6)配有离线测试盒，快速测试批量元器件。离线测试和在线测试功能完全一至。7)IC型号识别：标识不清或被擦除型号的器件，可“在线”或“离线”进行型号识别测试。8)读写存储器功能测试:可针对记忆容量在2k×8到256k×8的EPROM进行读取,对比及将资料存入电脑中,可进行在线或离线测试.可采取在线(离线)学习/比较的测试方法，先把好板上EPROM中的程序读出来，保存到计算机上，再和坏板上的相同器件中的程序进行比较测试；测试结果***到存储单元地址上，并打印出该地址正确和错误的代码9)5V/5A的直流电源程控自动输出,具有过电压及过电流保护功能.由系统自动控制输出,并可设定输出的延迟时间.方便各种类型电路板的测试。10)数字集成电路测试中集电极开路，自动上加上拉电阻。11)V-I曲线测试具有单通道探笔测试功能，方便分立器件的V-I曲线测试12)LSI大规模集成电路在线功能及状态分析测试：可采取学习、比较的方式对一些常见的LSI器件进行功能及状态分析测试。测试准确-源自***的测试技术1.同一器件同一时间完成多种测试：功能测试，V-I曲线测试，曲线拐点温度变化系数，各个管脚电压值测量,管脚连接状态测量显示,2.图形化元件测试库的编辑,输入输出各个测试通道的逻辑时序可以由测试者图形化自定义编辑测试完成，方便快捷的建立起测试库中没有的元件库3.整板测试非常简单，通过图形化的测试库编辑器，根据电路板原理，定义输入激励信号及测试输出的标准响应信号，快速建立板测试库，快速批量检测电路板的功能。4.逻辑电平阈值自动扫描,确定板系统逻辑电平阈值零界值,设定循环测试来发现不稳定的错误结果.5.逻辑电平阈值自定义。可以设定非标准的逻辑电平阈值，检查不稳定的元器件。6.短路电阻测量功能：三段低电阻测量范围，可以用图像及声音的变化来表示电阻值大小，并自动探棒校正功能。此功能可以用以检查电路板线路的电阻值，及检查短路点。7.输出逻辑时序图形显示、具体时序电压值显示,方便掌握具体有用测试信息。8.V-I曲线测试功能:可针对元件直接进行测试，曲线电压扫描范围：-10v~+10v；测试电压可由2.5到5V步阶式调整,可调整为非对称电压扫描信号，正负电压可以不一至，例如：-2.5v~+10v***大限度地保证测试的安全性。其输出电流由系统自动调整设定.扫描信号可达几十种。9.V-I曲线温漂拐点系数测定，可以观测曲线拐点温度变化系数，易于发现一些器件的非固定性故障。方便找出不稳定器件.10.系统可以在64路的基础上以64通道为单位进行通道扩充，直至256通道英国ABI-6400电路板故障检测仪技术参数：参数规格测试通道数:64通道总线隔离信号信道数:4通道输出驱动电压:TTL/CMOS标准输出驱动电流:电流依不同的逻辑电平阈值有下列区分一般H-L80mA@0.6V一般L-H200mA@2VMax.?400mA驱动电压转换比:>100V/μs电压范围:+/-10V输入阻抗:10k逻辑形态:三态或开集极开路(内定或由程序设定)驱动逻辑形态:Low,high,三态(tri-state)过电压保护范围:<0.5V,>5.5V***长测试时间:根据被测元器件而定测试方式:在线及离线测试(需外接离线测试盒)电源供给规格参数自动供给电源输出:1x5V@5A固定式过电压保护:7V过电流保护:7A测试模式单次(Single):单次测试循环(Loop):反复测试,或条件式循环测试(PASS或FAIL)自动扫描测试:可找到较为严格的逻辑电平阈值逻辑电平阈值设定规格参数***小调整解析:100mV低电平Lowlevels:TTL0.1Vto1.1VCMOS0.1Vto1.5V三态Switchinglevels:TTL1.0Vto2.3VCMOS1.0Vto3.0V高电平Highlevels:TTL1.9Vto4.9VCMOS1.9Vto4.9V扫描低逻辑范围Sweptlowlevels:TTL0.1Vto1.1VCMOS0.1Vto1.5V扫描逻辑转态范围Sweptswitchinglevels:TTL1.2VCMOS2.5V扫描高逻辑范围Swepthighlevels:TTL1.9Vto4.9VCMOS1.9Vto4.9V测试功能及参数集成电路功能测试根据测试库的功能进行测试，根据元件的原理和真值表进行测试元器件连接特性测试短路状态侦测Shortcircuitdetection悬浮（浮接）状态侦测Floatinginputdetection开路状态侦测Opencircuitdetection连接状态侦测Linkedpindetection电压量测Voltage:***小解析10mV范围+/-10V具逻辑状态侦测LogicstatedetectionVI曲线测试:测试通道数64电压设定范围-10Vto+10V(可自行设定)，可以设置非对称电压扫描***大测试电流1mA曲线拐点系数:管脚的v-i曲线图中的拐点图形，随温度产生变化的系数，对于判定温漂的故障元件非常有帮助配件标准配件1x离线测试测试盒1x64waytestcable(64通道测试线)1x64waysplittestcable(2X32通道测试线)1xV-Iprobeassembly(V-I曲线测试探棒)1xBDOcable(隔离通道信号测试线)1xShortlocatorcable(短路电阻测试探棒)1xGroundclip(接地信号夹)1xPSUleadset(电源输出线)通讯及机箱内置通讯接口PCIinterface(通讯接口)外置通讯接口及机箱MultiLinkcase模块二：ABI-2400的技术参数2400单独成为测量设备的外形ABI2400电路板故障检测仪特点：1)适合数字及模拟集成电路的测试2)可进行在线或离线测试与分析3)具有24路测试通道+2路探棒测试4)安全性高的无电源测量方式5)矩阵式V-I曲线测试模式,可针对管脚间的阻抗曲线进行测试6)在进行离线测试时,可针对芯片内部进行阻抗分析7)自动对比及储存曲线,8)可切换VI,VT及IT三种显示模式,可配合不同功能型式的FET元器件测试9)可设定同步脉冲信号的宽度,进行可控硅元器件或FET的功能测试10)可进行光耦合器及继电器元器件的速度功能测试11)具有二组信号源,可输出直流信号,针对光电耦合器及继电器进行稳态测试.12)曲线相似度百分比显示，具有业界中***多的测试条件设计,大大提高了故障诊断能力.13)测试频率高达到12kHz,非常合适测试电感及高频电容器件14)本系统具备自动信号补偿功能,可针对测试环境及夹具进行自校测试,以防止测量信号失真.15)可由软件来进行维修日志的编写16)可由软件加入图片,用来清楚的表示量测位置及电路板图像.?ABI2400测试技术参数V-I测试参数测量通道24路测试通道探笔通道2通道实时对比测试信号通道2通道同步脉冲信号测试电压范围2Vto50Vpeaktopeak：2、4、6、8、10、20、30、40、50V电压分辨率:8to12bits测试频率范围:37.5Hzto12kHz：37.5/60/75/94/120/150/187.5/240/300/375/480/600/750/960/1.2k/1.5k/2.4k/3k/4.8k/6k/12kHz信号电流范围:1μAto150mA测试阻抗范围:100Ωto1MΩ100Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ测试信号波形:正玄波、三角波、斜波显示图形模式:V-I,V-T,I-T矩阵测试各个管脚间的VI曲线测试测量波形自动对比功能:可利用实时量测双通道来自动实时对比好坏组件的波形,或是将波形进行存储之后,再进行比对工作.同步脉冲输出模式:正向(Positive),负向(negative)或双向(bipolar)波形，直流模式同步信号振幅:可调式由+10V~-10V)