日本日置 IM3536 LCR测试仪
日本日置IM3536LCR测试仪日本日置IM3536LCR测试仪DC,4Hz~8MHz测量频率,今后的标杆产品测量频率DC,4Hz~8MHz测量时间:***快1ms基本精度:&plu***n;0.05%***1mΩ以上的精度保证范围,也可安心进行低阻测量可内部发生DC偏压测量从研发到生产线活跃在各种领域中日本日置IM3536LCR测试仪主机不标配测试治具。请在选件中选择测试治具和探头。日本日置IM3536LCR测试仪技术参数;测量模式LCR(单一条件下测量),连续测量(保存条件下连续测量)测量参数Z,Y,θ,X,G,B,Q,Rdc(直流电阻),Rs(ESR),Rp,Ls,Lp,Cs,Cp,D(tanδ),σ,ε测量量程100mΩ~100MΩ,10档量程(所有参数由Z规定)显示范围Z:0.00m~9.99999GΩ,Y:0.000n~9.99999GS,θ:&plu***n;(0.000°~999.999°),Q:&plu***n;(0.00~9999.99),Rdc:&plu***n;(0.00m~9.99999GΩ),D:&plu***n;(0.00000~9.99999),Δ%:&plu***n;(0.000%~999.999%)等基本精度Z:0.05%***.θ:0.03°(代表值,精度保证范围:1mΩ~200MΩ)测量频率4Hz~8MHz(10mHz~100Hz步进)测量信号电平[V模式,CV模式]的[通常模式]4Hz~1.0000MHz:10mV~5V(***大50mA)1.0001MHz~8MHz:10mV~1V(***大10mA)[V模式,CV模式]的[低Z高精度模式]4Hz~1.0000MHz:10mV~1V(***大100mA)[CC模式]的[通常模式]4Hz~1.0000MHz:10μA~50mA(***大5V)1.0001MHz~8MHz:10μA~10mA(***大1V)[CC模式]的[低Z高精度模式]4Hz~1.0000MHz:10μA~100mA(***大1V)[直流电阻测量]:1V固定DC偏压发生范围:DC电压0~2.50V(低Z高精度模式时0~1V)输出阻抗通常模式:100Ω,低Z高精度模式:10Ω显示彩色TFT5.7英寸,触摸屏功能比较器、BIN测量(2个项目10种分类),触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能接口EXTI/O(处理器),/USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C,BCD输出电源AC100~240V,50/60Hz,50VAmax体积及重量330W×119H×230Dmm,4.2kg附件电源线×1,使用说明书×1,CD-R(通讯说明书,LCR应用光盘)×1)