LCR测试仪3522-50利用外部I/O接口,事先将登录的测量条件输入,进行不同测量条件的样品选择/评估。通过改变测量条件,登录恰当的测量条件、比较条件,相对同一样品也可进行连续测量。用一台测量仪,构筑于多品种的自动化生产线,实现***快5ms的高速测量。LCR测试仪HIOKI3522-50测试|Z|,L,C,RDC,1mHz～100kHz更宽范围的测量频率5ms高速测量的LCR计宽频量程(DC或1mHz~100kHz)测量14种参数(高分辨率和高精度)DC电阻测量LCR测试仪3522-50基本精度±0.08%，1mHz~100kHz的测试频率，5ms高速测量，测量14种参数，能提供与元器件工作条件更为接近的测试条件。)