高温阻断试验台系统概述交流阻断（或反偏）耐久性试验是在一定温度下，对半导体器件施加阻断（或反偏）电压，按照规定的时间，从而对器件进行质量检验和耐久性评估的一种主要试验方法。一般情况下，此项试验是对器件在结温（Tjm℃）和规定的交流阻断电压或反向偏置电压的两应力组合下，进行规定时间的试验，并根据抽样理论和失效判定依据，确认是否通过，同时获取相关试验数据。该系统符合MIL-STD-750DMETHOD-1038.3、GJB128、JEDEC标准试验要求。可供半导体器件配以适当的温度可控装置，作交流阻断（或反偏）耐久性/筛选试验。能满足IGBT进行高温反偏耐久性试验、高温漏电流测试（HTIR）和老炼筛选。系统组成漏电流保护回路在每一试品试验回路中都配置有0.1A的***丝，当试品在试验期内发生劣化或突然击穿或转折，***丝将熔断，设备面板上的相应工位的***灯点亮示警，同时蜂鸣器报警提示。试验电压保护回路试验电压由衰减板衰减取样后反馈到控制单元，通过峰保器输出与电压设定值比较，当试验电压高于电压保护设定值时，过压报警器响，同时保护继电器动作切断高压输出。高压回路由电源开关、控制继电器、自藕调压器、高压变压器、波形变换电路组成，产生规定的试验电压并通过组合高压线排，接入试品工位。电特性参数测试回路试验电压由电压取样回路，经采集、保持电路送到设备的数字电压表显示；试品漏电流对每一试品漏电流***采样，通过设备上的波段开关分别进行转换，传送到数字电流表显示。技术指标试验电压VDRM.VRRM/VRRM300V~4000V连续可调，50HZ工频试验电流RM/IRRM1.0mA~200.0mA试验温度室温～150℃；温度均匀性125℃&plu***n;3℃；温度波动度&plu***n;0.5℃试验工位10工位试验容量80×16=1280位加电方式器件试验参数从器件库中导入，ATTM自动加电试验方式，可单通道操作；老化电源可根据设定试验电压和上电时间程控步进加载)