C测试仪HIOKI3505测量频率1kHz,100kHz,1MHz；对应1MHz测试,低容量,高精度,高速测试反复测量精度更高，***适合生产线校正维修功能，减低由环境的温度变化影响C测试仪3505测量导线的过长引起的阻抗变化，阻抗补正功能比测仪的设定值和测定值的同步显示2ms的高速测量；1kHz,1MHz测量HIOKI3505电容测试仪根据BIN的测定区分容量比测仪和触发器同步输出功能输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件日置HIOKI3505C测试仪技术参数：测量参数C（电容）,D（损耗系数tanδ）,Q(1/tanδ)测量范围C:0.000fF～15.0000mFD:0.00001～1.99999Q:0.0～19999.9基本确度（代表值）C:&plu***n;0.14%***.D:&plu***n;0.0013※测定确度=基本确度×B×C×D×E,B～Eは各系数测量频率3505:1kHz,100kHz,1MHz,3506:1kHz,1MHz测量信号电平500mV,1Vrms输出电阻1Ω(在2.2mF以上的测量范围:1kHz;在22nF以上的测量范围:100kHzs),20Ω上述测量范围以外)显示LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)测量时间代表值:2.0ms（FAST）※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同机能BIN分选测量功能,触发同步测量,设定测量条件保存功能,比较器测量功能,平均机能,Low-C抵抗机能,震动机能,电流检测功能,输入电压检测机能,EXTI/O输入/输出,RS-232C接口,GP-IBイ接口电源AC100/120/220/240V&plu***n;10%（可选择）,50/60Hz,***大40VA体积及重量260W×100H×298Dmm,4.8kg附件电源线×1,电源备用***丝×1)