高性能 频率自校、频率测量 晶体测试仪JT-100A晶振测试仪
一、主要功能:频率自校、频率测量、PPm测量、周期测量、数据累计、功能设定二、主要技术指标:频率测量范围:0.1Hz—100MHz频率测量灵敏度:30mvPPm测量:3KHz—100MHzPPm测量精度:≤1PPm(1×10-6)(可扩展0.1PPm,0.01PPm)中心频率:0Hz—100MHz任意设定误差设置范围设定:&plu***n;1—&plu***n;999PPm任意设定。闸门设置:四档,0.01s、0.1s、1s三档固定,1档闸门1ms—10s可设,每1mS为一阶梯任意设定。周期测量范围:100ms—10s晶振稳定性:5×10-7/日(可选1×10-7/日,1×10-8/日)时基频率:OCXO--10MC三、特点:微机控制,可编程器件开发,模块化设计100MHz同步等精度测量方式***T贴装生产、工艺,全新小型化结构设计9位LED显示PPm提示功能四、可选配:晶体测量匹配器:32.768KHz-20MHz、20MHz-40MHz,40MHz-65MHz、65MHz-100MHz.注:仪器配置JT-100A晶体测试仪/PPm1台连接电缆2根电源线1根匹配器32.768KHz~20MHz1个***丝2个说明书1份合格证1个)