一、简要描述FLDT系列半导体激光器（LD）参数测试仪是测量半导体激光器主要性能参数和特性指标的仪器。通过给受试LD提供不同的工作电流，采集不同工作条件下受试LD的各种参数信号，计算得出该LD的光电转换特性、伏安特性、光谱特性、远场/近场特性和热特性。打印测试报告，保存数据。二、应用LD参数测试仪系列产品测试光功率范围从0.1mW-1000W以上，光谱测试范围从600-1700nm，根据器件封装形式的不同选择不同的夹具，包括：TO系列、COS、C-MOUNT、BAR系列、光纤输出系列等等。同时可以根据不同行业的需要进行设计，满足科研、生产、教学等需要。三、特点系统按功能模快化,采用单片机控制,性能稳定可靠，维修使用方便；测试功率覆盖范围宽：0.1mW~1000W以上；测试封装类型：TO系列、光纤输出系列、Bar系列、管芯系列以及各种组件等等；高质量的LD驱动电源：既可连续工作，又可脉冲工作，具有LD过流保护功能，低噪声、无浪涌和过脉冲；自动化程度高：整个测试、数据采集和数据处理、显示及打印都由系统自动完成；操作简单、测量速度快。四、功能/技术指标系统主要功能包括测量LD的光电特性（LI和LIM）、伏安特性（IV）、光谱特性（SP）、远场特性（FF）、近场特性（NF）和热特性（T），具体如下：进行LIV和LI测试，绘制LIV曲线和LIM曲线，检测、推算工作电流、输出光功率、工作电压、阈值电流、功率效率、斜率效率、微分电阻、背光电流等参数；进行光谱测试：绘制光谱曲线，推算峰值波长、光谱谱宽；进行远场测试:绘制远场曲线，推算水平发散角、垂直发散角；进行热阻测试；测试数据能够保存、导入，可打印标准测试报告。可测量参数：IO工作电流Ith阈值电流PO输出光功率ES斜率效率VO工作电压EP功率效率Rd微分电阻λp激光峰值波长IM背光电流Δλ波长宽度θ∥远场水平发散角θ⊥远场水平发散角Rth热阻)