DL-30低本底单路***性检测仪DL-30高精度***性检测仪就弱***性样品进行测量与分析，被测样品可以是电沉积样品，也可以直接铺样。所采用的分析仪器探头灵敏区为f30mm金硅面垒半导体探测器，抗干扰屏蔽，本底低，功耗小。广泛服务于地质勘测、地质调查、***、防疫站、环境监测站、工厂的水质、食品等检验其样品的总a***性活度，弱***性测量仪主要技术功能：探测器：金硅面垒f30mm，仪器本底：≤5cph探测效率：≥36%（2π,239Pu源）计数容量：99999999定时测量：定时时间在1—9999min内可选择设置测量范围:5*10-4Bq/kg--5*106Bq/kg灵敏度：优于5•10-4***/Bq/kg稳定性：≤5%准确性：≤&plu***n;5％功耗：:≤200mW；≤600mW使用条件：温度-5℃?50℃；湿度≤95%（40℃）供电电源：6v蓄电池，充电一次可工作12小时)