LM-02二路低本底α/β***性检测仪用途及特点低本底α/β***性检测仪是一种测量低水平α、β***性强度的精密仪器。可用于水、土壤、建材、矿石、气溶胶、食品等的总α、总β***性测量;适用于辐射防护、***门、***、生物、农业、科研院所和高等院校等进行的低水平α/β***性强度测量。LM-02双路低本底α/β***性检测仪为四路测量装置。LM系列检测仪性能稳定、设计紧凑，使用操作方便。以大面积薄窗流气式正比计数管为探测器（Ø60mm），用专门设计的屏蔽计数管与测量计数管进行反符合，以降低周围环境***性对测量的干扰。用精选“老铅”作成厚铅室屏蔽外来辐射。因此，该***性检查仪检测灵敏度高、本底低。能量响应好，对14C低能β射线的探测效率≥40%。优于半导体、闪烁体为探头的同类检测仪。LM系列检测仪采用计算机数控操作，不外设开关旋钮。通过程序控制可以自行检测计数管的坪特性，设定计数管的工作点，自行检测仪器本底计数率，并在对样品的检测时自行扣除本底计数，对结果进行修正。结合使用标准源，可以自行校准仪器的探测效率。自动处理检测结果。可以直接得到被测样品的***性比活度Bq/L或Bq/Kg等。主要性能指标：2.1本底计数率α≤0.0017cm-2min-1β≤0.0354cm-2min-1探测效率国际国内***的流气式探测装置，灵敏度高、比同类产品（如：半导体探测装置）稳定性好、配气瓶，测量样品的微弱***性（自来水）效果好。低本底铅室约600kg其屏蔽效果达到国内******水平；本底计数率α≤0.0017cm-2min-1β≤0.0354cm-2min-1活性区：Ø30mmα源：241Am≥80%β源：90Sr-90Y≥55%2.3影响量α对β<1%210Po源β对α<0.1%90Sr-90Y源2.4电源：220VAC50Hz功耗≤250VA2.5环境温度：0-45°C相对湿度≤90%。2.6体积：主机560×475×270mm2.7重量：主机≤600Kg3.系统简介：本仪器由检测仪主机和专用计算机构成，另外还需要一套专用的气源。检测仪主机是本仪器的核心部分。它包括双导轨抽屉式样品托架、测量计数管、屏蔽计数管、铅屏蔽室和***子学单元等五部分。专用计算机为PENTUM（586）以上的微机，内插专用接口板。专用气源包括气瓶、减压阀、稳压阀、稳流阀以及管道。3.1双导轨抽屉式样品托架包括样品盘、盘托架、导轨等。其选用材料全部是低本底材料。设计、加工精细，使用方便。样品互换性好，只要把样品盘放入托架的圆孔内，把托架推到测量位置，便完成了样品的******。测量完毕后拉出托架，换上载有新样品的样品盘，便可重新进行检测。3.2测量计数管测量计数管为圆饼状薄窗流气式正比计数管，它是***传感器（探测器），能将不可直接测量的辐射信息转化为可以直接测量的电脉冲信号。因其输出脉冲信号的幅度与入射粒子的能量成正比，而曰“正比”计数管。计数管的窗材料为镀AlMylar薄膜。窗口有效直径ф60mm,薄窗厚约2μm,薄窗便于α、β等穿透能力弱的粒子进入计数管。样品托架推到测量位置后，样品盘的中心（即待测样品的中心）正好对着计数管的窗口中心。窗薄、样品窗口距离近、测量立体角大，保证了样品测量的***率。3.3屏蔽计数管屏蔽计数管也是一只流气式正比计数管。它包围在测量计数管的四周和上部。本底辐射（包括宇宙射线和周围环境的γ射线）将会同时在两个计数管上产生脉冲，经反符合后不产生计数。3.4***子学单元电子线路包括脉冲放大器、脉冲甄别器、脉冲的成型与延迟、高压电源、α/β脉冲计数器和反符合计数器。在线路设计上采用高集成度的表面安装技术，使主机的体积重量大大减小，可靠性响应提高。它能将屏蔽计数管的计数、测量计数管的α计数和β计数分别处理后送入与之相连的计算机。为降低本底计数，采用反符合方法。凡是外界本底辐射同时在两个计数管上产生的脉冲，经过反符合单元将被消除，不会在β道产生输出计数。g-射线在测量计数管上产生的脉冲幅度很低，因而也不会在a-道产生计数。a-粒子与b-粒子的能量差别很大，在测量计数管上产生的脉冲高度差别也很大，经过脉冲甄别，理论上可以完全区分a-粒子与b-粒子。经过a与b反符合可以扣除a-粒子对b-道产生的脉冲。但是由于空气、计数管窗口和源本身的吸收和散射，使得a-粒子产生能量损失，以致部分a-粒子在β-道产生计数。a-粒子与b-粒子的的串道将通过软件进行校正。?3.5铅屏蔽室屏蔽室由低***性水平的老铅制成，平均厚度大于10cm。其中心部位是由计数管和样品托架构成的测量室。3.6专用计算机专用计算机中插有数字I/O接口和ADC接口。通过电缆与***子学单元连接。系统在Windows98平台上开发了控制和数据处理软件。运行参数设置，技术数据采集与处理、高压控制都通过计算机进行操作。断电时可保存前几时间段测得的数据，还可以进行样品种类选择、测量次数选择和测量时间选择。)