芯片焊接强度测试
一、功能用途:适用于半导体各种封装形式测试金铝线黏合力;及COB封装、光电,LED,***T组装,原件与基板黏合测试;二、应用范围:钩针拉线(Max:10Kg)镊子拉力(Max:5Kg)焊球推力(Max:250g)芯片推力(Max:100Kg)锡球推力(Max:5Kg)管脚拉力测试(Max:10Kg)等。三、技术参数:1、拉力测试测试范围可在0-100G;0-1KG;0-10KG进行选择;2、推球测试测试范围可在250G或5KG进行选择;3、芯片或CHIP推力测试范围可在测试到0-100公斤;0-200KG进行选择;4、镊子撕力测试头量程为100G和5KG进行选择;5、BGA拔球到0-100G;0-5KG进行选择;6、另外的选项如矢量拉伸和自动测试等……7、设备外形尺寸:长:730mm宽:425mm高:670mm8、重量:45kg)