射频抗扰度测试系统_BCI大电流注入实验系统
***提供射频抗扰度测试系统_BCI大电流注入实验系统:ISO11452-12005:ISO11452-22004:ISO11452-3:2001,ISO11452-42005,ISO11452-52002,GB/T17619-2008:ISO11452-12005:依据汽车电子产品的射频抗扰度测试标准要求,建立起来的射频抗扰度测试系统。测试项目有自由场测试,大电流注入法测试,带状线法测试,磁场抗扰度测试等。符合***新版本国际及国内标准的要求,全自动测试,低成本集成方案。标准ISO11452-12005:ISO11452-22004:ISO11452-3:2001,ISO11452-42005,ISO11452-52002,GB/T17619-2008:技术指标★自由场抗扰度测试:依据标准ISO11452-2,测试电平:100V/m,频率范围80MHz-2GHz★横电磁波(TEM)小室法:依据标准ISO11452-3,测试电平200V/m,频率范围0.01MHz-200MHz★大电流注入法测试:依据标准ISO11452-4,测试电平200mA,频率范围1MHz-400MHz★带状线抗扰度测试:依据标准ISO11452-5,测试场强200V/m,频率范围100kHz-1GHz测试项目A.自由场法测试:该试验方法是将电子电器组件(ESA)暴露于由天线产生的辐射电磁场中进行试验。试验应在一个电波暗室内的台架上进行。台架应是木质或等效的非导电桌。测试布置图图-自由场法测试示意图图-自由场法测试布置侧视图B.横电磁波(TEM)小室法:横电磁波(TEM)小室法适用频率范围:10kHz–200MHz,测试场强200V/m(25瓦功放时C.大电流注入法测试.完全满足ISO11452-4测试标准,支持置换法测试和闭环法测试,支持共模注入和差模注入,全自动测试,使用一个电流注入钳完成全部频率范围的测试主要技术参数★频率范围100kHz-400MHz★***大测试电平高于200mA测试布置校准示意图测试示意图图-BCI测试布置图D.带状线法测试ISO11452-5规定的50欧姆非对称带状线,能产生***高200MHz的TEM-波。在TEM模式下带状线内部的场强分布是非常均匀的。带状线也能用于200MHz以上,此时工作于高频模式。高频模式下产生的场强特性和位置有关。TEM模式和高频模式的区别在于,TEM模式下,带状线中心的场强***大,到边缘逐渐变小;高频模式下,带状线中心的场强较小,到边缘逐渐增加,另外,在多模操作期间,某些区域的极化方向会改变。测试布置图-带状线测试系统配置图-带状线测试布置示意图(默认单位mm)ISO11452-22004:ISO11452-3:2001,ISO11452-42005,ISO11452-52002,GB/T17619-2008:)
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