X-4显微熔点仪
显微熔点仪可用载波片方法测定物质的熔点、形变、色变等;也可用药典规定的毛细管方法测其熔点,尤其对深色样品的熔点,并能自始自终观察到其熔化的全过程。主要技术参数型号X-4显微镜倍数4倍物镜10倍目镜测量范围室温∽320℃测量精密度室温∽200℃误差&plu***n;1℃200℃∽320℃误差&plu***n;2℃电源220V/50HZ/80W)
常州第二纺织仪器厂有限公司
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