一、绕组变形测试仪产品介绍SEBX-DS绕组变形测试仪是根据***电力行业标准DL/T911－2004测量变压器的绕组变形的仪器，主要是通过检测变压器各个绕组的幅频响应特性，并对检测结果进行纵向或横向比较，根据幅频响应特性的变化程度，判断变压器可能发生的绕组变形。SEBX-DS绕组变形测试仪由测量部分及分析软件部分组成，测量部分是由信号生成及信号测量组成的黑匣子，分析部分由笔记本电脑完成，测量部分与笔记本电脑通过有线或者无线以太网连接，也可以通过USB连接。二、绕组变形测试仪产品特性在较高频率的电压作用下，变压器的每个绕组均可视为一个由线性电阻、电感（互感）、电容等分布参数构成的无源线性双口网络，其内部特性可通过传递函数H(jω)描述。若绕组发生变形，绕组内部的分布电感、电容等参数必然改变，导致其等效网络传递函数H(jω)的零点和极点发生变化，使网络的频率响应特性发生变化。变压器绕组的幅频响应特性采频率扫描方式获得。连续改变外施正弦波激励源VS的频率f(角频率ω=2πf)，测量在不同频率下的响应端电压V2和激励端电压V1的信号幅值之比，获得指定激励端和响应端情况下绕组的幅频响应曲线。L、K及C分别代表绕组单位长度的分布电感、分布电容及对地分布电容，V1、V2分别为等效网络的激励端电压和响应端电压，VS为正弦波激励信号源电压，RS为信号源输出阻抗，R为匹配电阻。三、绕组变形测试仪技术指标1、SEBX-DS绕组变形测试仪自带一个通道DDS信号输出作为扫频的激励信号；信号输出为正弦波，信号输出幅度可以软件调节，***大幅度&plu***n;5V，信号输出阻抗为50Ω2、两个采集通道，一个采集激励信号，一个采集响应信号，用于计算传递函数3、激励通道测量为固定量程：&plu***n;5V；响应通道有8档量程，在测量过程中自动调节量程，***大输入信号为&plu***n;25V4、采集通道量化精度：12位5、采集通道***大静态误差：0.5%6、每通道***大存储容量：64K样点7、每通道***高采样率：20Msps8、采集通道输入阻抗：1MΩ9、扫频测量范围：1K－1MHz10、扫描方式：采用线形分布的扫频测量方式11、扫描频率精度：信号源输出正弦信号的频率精度不大于0.01%12、扫频测量频点：1K－1MHz，测量点数1000点13、采用Vittal原装机箱14、符合***电力行业标准：DL/T911-2004四、绕组变形测试仪注意事项1.首先检查变压器接地状况是否良好，套管引线应全部解开。2.详细记录被试品的铭牌数据及原始工况有否异常，以及被试品变压器当前测试状况下的分接开关位置，并仔细输入被试品情况登记窗。3.根据被试品的情况建立被试品数据文件的子目录；测试完成后应将测量的数据备份至该目录下，并注意进行整理工作。4．数据存放格式：文件是以ASCII码的形式存放。5.对刚退出运行的变压器进行测量，测量前应尽量让其散热降温；但在整个测量过程中应停止对其所施的降温手段，保持温度，以免测量过程中温度变化过大而影响测量结果的一致性。6.现场测试时，为防止出现意外损坏仪器，使用所配的电源隔离变压器。六、绕组变形测试仪技术参数☆扫描方式：（仪器具备线性扫频测量和分段扫频测量双测量系统）（1）线性扫描分布扫频测量范围：(1kHz)-(2MHz)、2000扫频点、分辨率为1kHz（2）分段扫频测量分布扫频测量范围：(0.5kHz)-(1MHz)、2000扫频点；(0.5kHz)-(10kHz)、分辨率为0.02kHz(10kHz)-(100kHz)、分辨率为0.2kHz(100kHz)-(500kHz)、分辨率为1kHz(500kHz)-(1000kHz)、分辨率为1kHz☆其他技术参数：1、幅度测量范围:(-100dB)–(+20dB)2、幅度测量精度:0.1dB3、扫描频率精度:小于0.01%4、信号输入阻抗：1MΩ5、信号输出阻抗：50Ω6、同相测试重复率：99.5%7、测量仪器尺寸(长宽高)345X250X120(mm)8、仪器铝合金包装箱尺寸(长宽高)425X335X215(mm)9、仪器附件铝合金箱尺寸(长宽高)425X335X150(mm)10、总体重量:10Kg)