ENJ2005-B系统是专为测试半导体分立器件而设计。能够真实准确测试以下类型的半导体器件以及相关组合器件、器件阵列，测试种类如下：1)二极管DIODE2)晶体管TRANSISTOR（NPN型/PNP型）3)稳压（齐纳）二极管ZENER4)结型场效应管J-FET（N-沟/P-沟，耗尽型/增强型）5)MOS场效应管POWERMOSFET（N-沟/P-沟）6)三端稳压器REGULATOR（正电压/负电压，固定/可变）7)光电耦合器OPTO-COUPLER（NPN型/PNP型）8)可控硅整流器（普通晶闸管）SCR9)双向可控硅（双向晶闸管）TRIAC10)绝缘栅双极大功率晶体管IGBT（NPN型/PNP型）11)光电逻辑器件OPTO-LOGIC12)双向触发二极管DIAC13)固态过压保护器SSOVP14)光电开关管OPTO-SWITCH15)硅触发开关STS16)继电器RELAY17)金属氧化物压变电阻MOV18)压变电阻VARISTOR19)达林顿阵列DARLINTON)