仪器特点:计算机全数字化控制，操作简捷直观。步进马达自动进行针尖－－样品逼近，保证实验圆满成功。深度陡度测量，三维显示。纳米材料粗糙度测量、颗粒径度测量及分布统计。Ｘ、Ｙ二维样品移动平台，快速搜索样品区域．标准RS232串行接口,无需任何计算机卡样品观测范围从0.001um-20000um。扫描速度达40000点/秒可选配纳米刻蚀功能模块。技术指标:STM探头样品尺寸：厚度小等于15mm。XY***大扫描范围：标准6X6微米可选3μm×3μm,10μm×10μm,20μm×20μm,50μm×50μm,100μm×100μmＺ向分辨率：0.01nm(HOPG定标)XY二维样品移动范围：５mm样品-针尖白光照明步进马达自动进行针尖-样品逼近(自动保护针尖)全金属屏蔽防震隔音箱（选配）精密隔震平台（选配）电子学控制器:XYZ控制18-BitD/A数据采样14-BitA/D、16BitA/D多路同步采样Z向反馈DSP数字反馈反馈采样速率64.0KHz高压放大器集成高压运算放大器，***大电压范围+/-150V频率范围---幅度范围---扫描速率21Hz扫描角度0-360度连续可调扫描偏移任意图像采样点256X256或512X512步进马达控制手动和自动进退计算机接口标准RS232串行/USB)