可满足空客、波音等航空公司的测试要求。同时可满足新版MIL-STD-461GCS117闪电引起的用设备电缆传导敏***试验，以及新GJB8848雷电传导耦合注入试验。本套系统可广泛用于航天、航空、车辆、舰船、以及各种军标装备的电子系统的雷电间接效应瞬态感应测试，也可用于其他相关研究试验。符合标准RTCADO-160Section22、SAEARP5412、MIL-STD-461G(cs117)、AECTP-250、GJB8848特点：一台机器可以实现多个波形及多种测试功能2台主机可以完成6类8种波形的输出可以完成单次回击、多次回击、以及多脉冲群的测试功能试验电压和间隔时间可以任意设置，可编排测试流程采用触摸屏控制，全自动智能控制模块化设计结构，可选配多种波形模块雷电间接效应由于波形众多、测试方法复杂，因此根据波形和试验方法将试验设备分为2套主机系统：包括LSS160（实现W1，W4和W5的所有波形测试）和ETS160（实现W2，W3和W6的所有波形测试）。其中LSS160分为LSS160SS（满足插脚注入和线缆束单次回击试验）和LSS160MS（满足线缆束多次回击试验），ETS160系统包括ETS160MB和相应的可选模块。雷电间接效应由于波形众多、测试方法复杂，因此根据波形和试验方法将试验设备分为2套主机系统：包括LSS160（实现W1，W4和W5的所有波形测试）和ETS160（实现W2，W3和W6的所有波形测试）。其中LSS160分为LSS160SS（满足插脚注入和线缆束单次回击试验）和LSS160MS（满足线缆束多次回击试验），ETS160系统包括ETS160MB和相应的可选模块。设备主机输出波形参数功能、特点LSS160SS插脚注入试验：W4:6.4/69us（5Ω）电压：50-2500V；电流：10-500AW5A：40/120（1Ω）电压：50-3000V；电流：50-3000AW5B：50/500（1Ω，选配）电压：50-1900V；电流：50-1900A可满足W4，W5A，W5B波形PIN注入试验的等级1-5测试。测试等级1时需要配合LSU-1低等级波形衰减模块使用标配W5B波形模块输出为1000V/1000A，可选配***大输出1900V/1900A的PIN注入波形选配模块电缆束试验(单次回击)：W1:6.4/69us（电流波）电流：100-3500AW4:6.4/69us（电压波）电压：50-2500VW5A：40/120（电流波）电流：150-10000A（2T：1T）W5B：50/500（电流波，选配）电流：150-5000A（2T：1T）可满足W1，W4，W5A，W5B波形电缆束感应试验的等级1-5测试。标配W5B波形模块***大输出为1000V/1000A电缆束试验需要配合LCT-1和LVT-1耦合变压器使用。可选配W5B波形模块***大进行电缆束5kA测试（2T：1T）LSS160MS电缆束试验(多次回击):W1:6.4/69us（电流波）首波:50-3500A后续波:25-1000AW4:6.4/69us（电压波）首波：25-2500V后续波:12.5/800VW5A：40/120（电流波）首波：60-5000A后续波：30-2000AW5B：50/500（电流波，选配）电流：60-3000A电流：30-1000A需要配合LSS160SS发生器一起使用满足W1，W4，W5A波形电缆束多次回击的等级1-5测试。可以实现输出***多24个脉冲的连续输出。电缆束多次回击试验需要配合LCT-1和LVT-1耦合变压器使用。W5B的等级4、5属于选配模块ETS160MB插脚注入试验：W3:1MHz（25Ω）电压：100-3200V；电流：4-128A完全满足W3-1MHz的插脚注入试验等级1-5的测试。电缆束试验(单次回击)：W2:0.1/6.4us（电压波）电压：50-2000VW3:1MHz/10MHz（电压波）电压：100-4000V完全满足W2、W3（1MHz、10MHz）的电缆束试验等级1-等级5的测试。W3-1MHz的波形选配模块分为2个模块，1个用于低等级试验，而另一个用于高等级试验。电缆束试验(多次回击)：W2:0.1/6.4us（电压波）首波：50-2000V后续波：25-1000VW3:1MHz/10MHz（电压波）首波：100-4000V后续波：50-2000V完全满足W2、W3（1MHz、10MHz）的电缆束多次回击试验等级1-等级5的测试。W3-1MHz的波形选配模块分为2个模块，1个用于低等级试验，而另一个用于高等级试验。电缆束试验(多脉冲群)：W3:1MHz/10MHz（电压波）电压：50-3000VW6:0.25/4us（电流波）电流：5-160A完全满足W2、W3（1MHz、10MHz）的电缆束多次回击试验等级1-等级5的测试。W3-1MHz的波形选配模块分为2个模块，1个用于低等级试验，而另一个用于高等级试验。)