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IC单排集成电路老化测试座
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IC单排集成电路老化测试座该产品用于航空航天、***、科研单位以及集成电路生产企业,可配进口老化台、老化板做器件及高、低温测试、老化筛选作连接之用。产品型号及规格;IC-21J主要技术指标;间距;2.54mm环境温度;-55℃—+155℃接触电阻;≤0.01欧工作电压;DC500V单脚插入力;≤0.2Kg弹片金层厚度;1um镍3um金封装形式:CPGA)
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