金属膜层测试仪/膜厚仪在技术上一直以来都***于全世界的测厚行业,X-射线荧光镀层厚度测量仪能够测量包含原子序号17至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。金属膜层测试仪/膜厚仪应用:测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可侦测元素的范围：CL(17)~U(92)。行业:五金类、螺丝类、PCB类、连接器端子类行业、电镀类等。特色:非***，非接触式检测分析，快速精準。可测量高达4层的镀层(4层厚度+底材)并可同时分析多至24种元素。相容Microsoft微软作业系统之测量软体，操作方便，直接可用Office软体编辑报告。全系列独特设计样品与光径自动对準系统。PCB膜厚测试仪标準配备:溶液分析软体，可以分析电镀液成份与含量。準直器口径多种选择，可根据样品大小来选择準值器的口径。移动方式：全系列全自动载台电动控制，减少人为视差。独特2D与3D或任意位置表面量测分析。雷射对焦，配合彩色CCD擷取影像使用pointandshot功能金属膜层测试仪/膜厚仪设备遵循ASTMB568，DINENISO3497国际标准，主要基于WinFTM?V6L核心控制软件的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。采用全新数学计算方法,采用***新的FP（FundamentalParameter）、DCM(DistencoControlledMeasurement)及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算，金属膜层测试仪/膜厚仪在加强的软件功能之下，简化了测量比较复杂镀层的程序，甚至可以在不需要标准片之下，一样精准测量。期待您的来电，金霖电子吴小姐手机：13603036715TEL：0755-29371651FAX：29371653公司网址：地址：宝安中心区宏发中心大厦)