电子元件镀层膜厚测试仪是一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。结合了测量镀层厚度及物料分析双功能在一整体的设计，此仪器是采用能量散射X-射线萤光测量原理，符合国际标准来进行非***及不接触的测量。电子元件镀层膜厚测试仪，除了可以测量镀层厚度外，还可以计算合金中各种元素的含量。电子元件镀层膜厚测试仪产品特点：★X射线发生系统采用了聚光导管由于采用了X射线聚光导管方式，可得到以往十倍以上的X射线强度，从而可以提高微小样品的膜厚测量及***物质测量的精度。★无需液氮的半导体检测器在进行薄膜测量与***物质的浓度测量时，高分辨率的检测器是必不可少的。SFT9500的检测器不但可以达到高分辨率，而且可以实现高计数率。同时，由于使用了电子冷却方式，所以无需液氮。★能谱匹配软件可瞬间识别未知样品与事先存档的X射线能谱库中哪一个样品较为接近的软件。对识别材料十分有效。★块体检量线软件（适用于电镀液分析）可简单地测量出电镀液中主要金属的浓度。★绘图软件（选配件）将元素面分析的结果进行等高线和色彩使用等视觉处理的软件。★电镀液容器（选配件）★各种标准物质（选配件）期待您的来电，金霖电子吴小姐手机：13603036715TEL：0755-29371651FAX：29371653公司网址：地址：宝安中心区宏发中心大厦)