X荧光光谱仪/膜厚仪采用X射线荧光的工作原理是，X射线管产生初级射线照射在受检物质时，会激发物质***X－射线萤光辐射，特定的元素有特定的辐射信号，***便会记录这些能量光谱。不需要先对样品进行处理便能测量，样品可直接放入测量室进行测量。不需要复杂、昂贵的仪器来抽真空，便能在正常的环境下测量从元素Z＝13铝到Z＝92（铀），固定、浆状及液体的样本也可以测量，即使是***不规则形状的测量面积也可快速、免接触的测量。X荧光光谱仪/膜厚仪只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层：Zn，Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。X荧光光谱仪/膜厚仪主要特点:新型号的FISCHERSCOPE?X-RAYXDVM?-μ是一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。它的出现解决了分析和测量日趋小型化的电子部件，包括线路板，芯片和连接器等带来的挑战。这种创新技术的，目前正在申请专利的X-射线光学可以使得在很小的测量面积上产生很大的辐射强度，这就可以在小到几?reg;微米的结构上进行测量。期待您的来电，金霖电子吴小姐手机：13603036715TEL：0755-29371651FAX：29371653公司网址：地址：宝安中心区宏发中心大厦)