日本AET微波(高频)介电常数测试仪(MicrowaveDielectricMeasurementSystem),利用微波技术结合高Q腔以及3D电磁场模拟技术，采用德国CST公司的3D电磁类比软件MW-StudioTM，测量材料的高频介电常数，此方法保证了介电常数测量结果的精确性。AET公司开发了二种共振腔：空洞共振腔和开放式同轴共振腔用于测试环境腔。空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的,玻纤介电常数为5~6,树脂大约是3,由于树脂含量,硬化程度,溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差,传统测量方法样品制作不易,尤其是薄膜样品(小于10mil)量测值偏低,。日本AET公司针对CCL/印刷电路板设计空洞共振腔测试装置,只需裁成小长条状即可量测精确的复介电常数(Dk),尤其是低损耗(Df)的样品,测量值非常精准。用于介电常数测试仪，介电常数分析，介电损耗测试，高频介电常数测量。技术参数频率范围：1G~20GHz同轴共振腔：介电常数Epsilon：1~30，准确度：+/-1%，介电损耗tangentdelta：0.05~0.0001，准确度：+/-5%应用领域：薄膜材料，半导体材料，电子材料（包括CCL和PCB），化学品，陶瓷材料，纳米材料，光电材料等。)