高精度专用治具可保证对精细节距的IC载板进行测试标配4腺式低阻测试机能可测范围400μΩ～40mΩの4使用***旋转台系统构造大幅度提高产能,降低单片测试时间由于对拼板使用步进测试方式,对精细节距基板可提高探针接触的稳定性及***大限度的减小扎痕标准配备微开,微短的测试机能测试治具拆装,更换简单易行,基板承载盘为通用形式,适用于测试范围内的不同基板)