株式会社***測中国销售EX-731型***荧光式测厚仪
价格:230000.00
1.***源:油浸式小型微小焦点***管.50KV管电压,可变管电压。2.照射方式:由上而下垂直照射方式。3.检出器:比例计数管。4.滤波器:采用Co和Ni双滤波器及数位式滤波器,可单一或同时使用。5.准直仪:Collimator采用五种孔径一体成型式,可自动切换使用。0.1,0.2,0.5,1.0,2.0ψ㎜.(选购)0.05×0.5,0.05,0.1,0.2,0.5ψ㎜.(选购)0.05,0.1,0.2,0.3,0.5ψ㎜.6.样品观测系统:彩色CCD及高画质显示屏。7.多能谱分析器:使用256高频分析器,光谱自动分析,在执行测量及运算时,非常快速。贰.计算机操作部:8.计算机系统:(仅供参考)w联想兼容中文个人计算机.wCPU:IntelCeleron2GHz或以上.wRAM:2GB或以上.wDVD-ROM×1.wRS232串行通信接口wHardDisk:160GB或以上.w19"高画质显示屏.9.打印机:日本EPSON彩色喷墨式打印机。10.本机型(EX-731系列)之操作系统采中文视窗(WindowsXP)对话式操作,非常简便。参.特性说明:11.测量项目:w单层膜厚测定.w2层膜厚测定.w3层膜厚测定.w合金膜厚成份比同时测定.w化学镍膜厚测定.w压铸锌底材上镀铜、镍二层膜厚同时测定.w元素的光谱峰值测定分析.12.测量材质:原子序22(Ti)~82(Pb)为激发法测量。原子序22以下为吸收法测量。13.测量范围:原子序22~24,约0.2~20um.原子序25~40,约0.1~30um.原子序41~51,约0.2~70um.原子序52~82,约0.05~10um.14.测量机能:w自动测定.w同一点重复测定机能w输出形式设定.w自动测定条件测定.w能谱测定.w2点间等距离测定.)
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