Fluke Ti 20 热成像仪
FlukeTi20热成像仪技术指标热参数探测器类型:硅探测器,非制冷焦平面准确度:&plu***n;2%或&plu***n;2ºC(取大者)准确度(-10至0C):+/-3ºC重复性:&plu***n;1%或&plu***n;1ºC(取大者)NETD:200mK温度显示分辨率:0.1ºC光学/红外光谱范围:7.5-14微米目标瞄准:单波长激光点(符合lEC2类及FDAII类要求)光学分辨率:75:1测量圆点***小直径:8.1mm(距离为61cm时)视场(FOV):20º水平x15º垂直控制焦点:可聚焦,15cm至无穷远温标:可选择ºC色板:***、反***、蓝红、铁红、彩虹、热金属、高对比度、蓝红、经色、琥珀色测量模式:可选择自动或手动激光开/关:随附增益控制:随附级别控制:随附LCD背光:可选择亮或暗操作可调辐射系数:0.10至1.00,步长0.01液晶显示:TFT技术,适于室内及室外使用,70.5mmx53.5mm反射背景温度:-50至905ºC操作环境温度:-10至50ºC相对湿度:10至90%不结露存放温度:-25至70ºC[不带电池]存储能力:100张图像激光开启图标:随附电池电量不足图标:随附测量模式图标:随附热分析软件:InsideIR(随附)PC软件操作系统:Microsoft®Windows2000®或WindowsXP®电气电源:充电电池组(随附)电池寿命:至少连续使用3小时数据传输:USB接口,50幅图像的总传输时间仅为25秒存储设备:快速存储器其它三脚架(6.35mm(1/4)20统一标准螺纹)重量(包括电池):1.2kg保修:1年产地:美国撞击防护:半正弦波,11ms,30g峰值,符合mil-prf-28800f振动防护:-随机6GEMC:EN61326-1)