【伯东公司供应】Pfeiffer离子分析质谱仪离子分析外部产生的离子，例如等离子体产生的离子的分析。在此过程中离子光学器件替代了离子源使用。次级离子质谱仪SIMS(二次离子质谱仪)是一项经证明可靠成熟的表面分析技术。它可用作***测量方法,也与其它表面分析方法连用，如SCA(化学分析用电子光谱法)和AES（俄歇电子能谱法）。SIMS具有高的灵敏度和能检测对分析结果又决定性作用的同位数，因此,SIMS常被选用。质量数范围1-3401-5121-1024检测极限用于正粒子cps0.10.10.1用于负粒子cps101010动态范围用于正粒子cps107107107用于负粒子cps105105105工作压力，***大mbar1.10-51.10-51.10-5分析仪QMA410QMA400QMA400测杆系统，直径／长度mmMo/16/300Mo/8/200Mo/8/20090°偏轴SEMSEM217SEM217SEM217离子光学镜，配有电子束止挡、绝缘的3透镜3透镜3透镜高压电源HV421HV421HV421RF发生器QMH410-3QMH400-5QMH410-1离子计数器前置放大器CP400